词语

可测试性设计

kě cè shì xìng shè jì · ㄎㄜˇ ㄘㄜˋ ㄕˋ ㄒㄧㄥˋ ㄕㄜˋ ㄐㄧˋ · 更新 2026-07-01 17:12:03

基本属性

  • 拼音字母ke ce shi xing she ji
  • 拼音首字母kcsxsj
  • 注音符号ㄎㄜ ㄘㄜ ㄕ ㄒㄧㄥ ㄕㄜ ㄐㄧ
  • 注音首符号ㄎㄘㄕㄒㄕㄐ

词语解释

可测试性设计(英语:Design for Testability, DFT)是一种集成电路设计技术,它将一些特殊结构在设计阶段植入电路,以便设计完成后进行测试。

拆字组词